4-6 июня 2019 года в Черноголовке во всероссийской конференции «Особенности применения сканирующей зондовой микроскопии в вакууме и различных средах» (“Applications of scanning probe microscopy out of ambient conditions”) принял участие Максим Докукин, кандидат физико-математических наук, доцент кафедры общей физики СарФТИ НИЯУ МИФИ.
Высокоразвитый комплекс научных и производственных организаций, современная информационная среда, хорошо развитая инфраструктура – это наукоград Черноголовка, который находится в 45 км к северо-востоку от Москвы. Градообразующими предприятиями Черноголовки являются 9 научно-исследовательских институтов РАН и Экспериментальный завод научного приборостроения.
Конференция была организована Институтом физики твердого тела Российской академии наук при поддержке Российской академии наук, Группы компаний НТ-МДТ Спектрум Инструментс, Интертек Трейдинг Корпорейшн, Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ).
4 июня, в первый день работы конференции, преподаватель СарФТИ НИЯУ МИФИ М.Е. Докукин представил коллегам свой доклад «Использование карт адгезии, полученных с помощью СЗМ, для выявления «физических» маркеров заболеваний человека». Доклад прошел успешно, после выступления автор ответил на многочисленные вопросы.
По словам Максима Евгеньевича, научное мероприятие оказалось очень полезным, состоялись интересные деловые знакомства со специалистами и учеными, работающими в междисциплинарной области фундаментальной и прикладной науки и техники, чей интерес сосредоточен на теме применения и развития сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) – одного из мощных современных методов исследования морфологии и локальных свойств поверхности твердого тела с высоким пространственным разрешением.
В настоящее время сканирующая зондовая микроскопия — предмет докладов и обсуждений участников конференции — превратилась из экзотической методики, доступной лишь ограниченному числу исследовательских групп, в широко распространенный и успешно применяемый инструмент для исследования свойств поверхности. Практически ни одно исследование в области физики поверхности и тонкопленочных технологий не обходится сегодня без применения методов СЗМ.