Итоги международного конкурса "Лучший инновационный проект и лучшая научно-техническая разработка года" были подведены на юбилейной выставке-конгрессе "Высокие технологии. Инновации. Инвестиции" (HI-TECH) в рамках X Петербургской технической ярмарки.
Двумя дипломами II степени с вручением серебряных медалей в номинации "Лучший инновационный проект в области: наносистемы, наноустройства, наноматериалы, нанотехнологии" был награжден Петербургский институт ядерной физики НИЦ "Курчатовский институт" за разработку 3D НАНО универсального измерительного микроскопа (3D НАНО УИМ) с разрешением 1 нанометр и радиусомера голографического (РГ-Р). Автор разработок – заведующий лабораторией голографических информационных и измерительных систем, доктор физико-математических наук, профессор Борис Ганьевич Турухано.
Принцип работы системы 3D НАНО УИМ основан на использовании линейных голографических датчиков, которые, по сути, являются фотоэлектрическими преобразователями линейных перемещений. Уникальность прибора состоит в том, что точность его измерений (+/- 0,1 микрона) в 25 раз превышает точность измерений знаменитого микроскопа УИМ, разработанного немецкой фирмой "Карл Цейс".
Действие радиусомера основано на использовании голографического длинномера. Благодаря устройству любое круглое или овальное изделие может быть измерено в диаметре от метра до десятков метров с дискретностью отсчета 1 микрон.
Изобретения лаборатории голографических информационных и измерительных систем ПИЯФ НИЦ "Курчатовский институт" планируется использовать во всех высокотехнологичных производствах, начиная от машиностроения и заканчивая ракето- и самолетостроением.
Полученное признание на конкурсе HI-TECH в очередной раз подтвердило статус лаборатории как одного из мировых лидеров в области наноизмерительных систем линейных и угловых перемещений.