Новосибирский ИФП СО РАН разработал нанометровую «линейку» на основе атомных ступеней для применения в современной электронной промышленности

Мера высотой 26,025 нанометра. Изображение получено с помощью атомно-силового микроскопа. Резкая макроступень внизу изображения состоит из 83 моноатомных ступеней высотой 0,31356 нм, которые подсчитываются на разреженном участке вверху изображения (штриховой прямоугольник, его увеличенный фрагмент приведён справа)
Новости
237
Источник:
ИФП СО РАН