РФЯЦ-ВНИИЭФ выступил на выставке «Новая электроника-2016»
В Москве, в Экспоцентре, с 13 по 15 апреля прошла Международная выставка «Новая электроника-2016». РФЯЦ-ВНИИЭФ представил свои технологии и разработки на объединённой экспозиции предприятий Госкорпорации «Росатом».
Участниками форума стали более 250 ведущих игроков российского рынка в области микроэлектроники, электронных компонентов, измерительного и технологического оборудования, систем проектирования и разработки электронных устройств.
«Экспозиция РФЯЦ-ВНИИЭФ была представлена направлениями: разработка и изготовление микроэлектронных изделий с высокой стойкостью к ионизирующему излучению (изделия на основе гибридно-пленочной технологии и пьезокристаллического кварца с применением МЭМС-технологий, производство кварцевых чувствительных элементов, прецизионная лазерная обработка металлов), система межпроцессорных обменов для суперЭВМ, компактные суперЭВМ, универсальные контроллеры защиты FOBOS для высокоскоростных волоконно-оптических систем передачи данных, защищенная операционная система для суперЭВМ»,
— сообщает пресс-служба РФЯЦ-ВНИИЭФ.
Объединённую экспозицию ГК «Росатом» посетил директор Департамента развития научно-производственной базы ЯОК Сергей Власов, которому были представлены образцы аппаратных модулей системы межпроцессорных обменов разработки РФЯЦ-ВНИИЭФ. Сергей Евгеньевич интересовался их техническими характеристиками и текущим состоянием работ, а также отметил лучшее оформление стендов с информационными материалами, подтвердил необходимость ежегодного участия в этой выставке и пожелал успешной работы и дальнейшего развития.
Разработки Ядерного центра вызвали большой интерес представителей профильных предприятий Зеленограда, Москвы, Фрязина, Минска. Участие РФЯЦ-ВНИИЭФ в выставке позволило привлечь внимание потенциальных потребителей к разработкам института, наладить деловые контакты со специалистами и поддержать имидж Государственной корпорации «Росатом» как лидера в области микроэлектроники.
По итогам работы РФЯЦ-ВНИИЭФ был отмечен дипломом участника.
